분석

'실험 분석'과 '필터 제품'의 완벽한 결합

LFASLitt-C의 여과 분석 서비스를 의미하며, 고객에게 세계 최고 수준의 여과 관련 분석 서비스를 제공합니다. 우리의 분석 실험실은 여과 분야에서 매우 유명하며, 풍부한 경력의 일본 전문가가 지도합니다.

LFAS는 우리의 핵심 비즈니스입니다. 우리가 제공하는 정교하고 완벽한 여과 분석 서비스는 현재 시중의 반도체, 바이오 화학, 특수 화학제품, 식품 제약, 패널 및 광전자 등 각 산업의 기타 필터 공급상과는 완전히 다릅니다.

우리는 '분석 서비스'와 '필터 제품’을 완벽하게 연계시키고 결합시켜야만 분석 데이터와 결론 증거에 따라 모든 여과와 관련된 문제를 효율적으로 해결할 수 있고, 가장 우수한 개선책을 제시할 수 있다는 것을 항상 명심하고 있습니다.


1. Metal Ions Detection 금속 이온 분석

우리는 PPT (Parts Per Trillion)레벨의 금속 이온 분석을 진행할 수 있습니다. 각종 필터 속의 금속 이온 석출 상황을 분석하거나 유체 속의 금속 이온 함량을 분석함으로써, 필터에 적용되는 재질 및 그 정화 처리 정도를 결정하거나 또는 더 나아가 유전체 필름을 사용해 금속 이온 흡착이 필요한지 결정합니다.

2. CMP Slurry Particles Detection CMP 슬러리 입자 분포 분석

우리의 첨단 NICOMP PSS 기기는 CMP 슬러리 또는 페이스트 액체 속의 입자 분포를 분석할 수 있습니다. CMP 슬러리 속의 각종 크기와 각종 형태의 콜로이드형 폴리머의 입자 분포 상황을 분석하며, 분석 범위는 6nm ~ 6µm입니다. 웨이퍼 스크래치에 대한 폴리머 입자 직경의 관련성을 분석할 수 있고, 또 CMP slulrry의 여과 효과에 대한 다양한 공급업체의 필터 제품을 비교 분석할 수도 있습니다.

3. Particle Material Detection 마이크로 푸리에 분광학 불순물 재료 분석

우리의 Micro FT-IR 마이크로 푸리에 분광학 분석기는 미세한 입자의 불순물 성분을 분석할 수 있으며, 광범위한 데이터베이스와의 비교 분석을 통해 불순물의 재질을 확인하고, 그 소스의 판단에 협조합니다. 현재 분석의 최소 한계는 5 µm입니다.

4. Particle Size Detection 불순물 입자 크기 분석 (모든 채널)

우리의 RION 정밀 레이저 입자 계수기는 액체 속의 각종 입자 크기의 불순물을 정확하게 분석할 수 있습니다. 순정수나 유체 속의 최소 0.04 µm,최대 200 µm의 불순물을 확실하게 분석합니다.

5. 100,000X SEM analyses 10만 배율의 전자현미경 사진 분석

우리는 여과막 구조에 대한 이해, 제조 공정의 세균 유무 판단, 불순물 형태 관찰 등을 위해 10만 배율에 달하는 SEM 현미경 분석을 제공하며, 이러한 초고배율의 현미경 사진 분석 서비스를 통해 문제점을 정확하게 찾아낼 수 있습니다.

6. LC-UV (PDA) 전대역 고속 액체 크로마토 그래피,유기 용해물질 검출

반도체나 생화학 제약 산업에서는 유기 용해에 대한 요구사항이 가장 엄격합니다. 우리의 전대역 고속 액체 크로마토 그래피는 유기 용액, 유체의 성분과 함량 분석, 또는 필터나 기타 부품의 유기 용해물을 분석할 수 있습니다. 또한 우리 기기의 멀티 채널 설계 UV 검출기는 여러 종류의 분석물을 동시에 신속하게 검출하며, 높은 감도 및 안정적인 성능을 갖추고 있습니다.

7. Filter Integrity Test Equipment 필터 무결성 테스트

우리는 필터의 정확한 사용 확보와 필터 자체나 조립 과정 중의 결함 가능성을 조사하기 위해 버블 포인트 테스트, 확산 흐름 테스트, 압력 유지 테스트, 물 침입 테스트 등을 포함하는 필터의 각종 무결성 테스트를 정확하게 진행할 수 있습니다.

. 그밖에도 우리는 미생물 배양 균주 분석, 가스 크로마토 그래프 질량 분석기 분석, 비휘발성 잔류물 분석, TOC 분석, 필터 중의 불순물 유출 분석, 세균 도전성 테스트, 여과막 기공 분포 분석, 필터 무결성 테스트 등 50여 가지 이상의 특정 아이템을 분석할 수 있습니다. Litt-C의 필터 분석 요약표를참조하십시오.

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